Semiconductor
High-purity graphite components for crystal growth, ion implantation and wafer processing.
<10 ppm
회분 함량 (반도체 등급)
2800°C
최고 사용 온도
IG-110
권장 흑연 등급
흑연 솔루션: Semiconductor
실리콘 단결정 성장, 에피택셜 증착, 이온 주입, 열산화 공정은 모두 2000°C 이상에서 초저금속 오염도와 정밀 치수 안정성을 겸비한 흑연 부품을 필요로 합니다. 철, 니켈, 구리가 sub-ppm 수준만 존재해도 웨이퍼 전체 로트의 디바이스 성능을 저하시키는 심층 결함이 발생합니다.
캄스코리아는 IG-110 및 IG-430U 고순도 흑연으로 제작된 도가니, 서셉터, 풀러 샤프트, 발열체, 단열 링 등 초고순도 흑연 부품을 공급합니다. 모든 납품에 완전한 원소 분석 성적서와 블록부터 완성 부품까지의 로트 추적성이 제공됩니다.
캄스코리아를 선택하는 이유: Semiconductor
IG-110 고순도 흑연 공인 유통 및 가공 파트너
모든 납품에 완전한 원소 분석 재료 성적서 제공
원자재 블록부터 완성 부품까지 로트 추적성 관리
진공 밀봉 PE 포장; 요청 시 클린룸 환경 취급 가능
주요 납품 분야
주요 응용 분야: Semiconductor
CZ 실리콘 단결정 성장
초크랄스키 단결정 실리콘 성장로용 도가니, 서셉터, 발열체, 풀러 샤프트.
플로트 존(FZ) 실리콘
플로트 존 실리콘 정제 공정용 초고순도 흑연 코일 및 RF 발열체.
에피택셜 증착
CVD 에피택셜 실리콘 및 III-V 화합물 증착 반응기용 서셉터 및 트레이 부품.
확산로
관형 확산·산화로용 흑연 보트, 푸셔 및 공정 튜브.
MOCVD / MBE
유기금속 화학 기상 증착 및 분자빔 에피택시용 고순도 흑연 부품.
이온 주입
이온 주입 공정용 흑연 웨이퍼 홀더 및 마스킹 부품.
기술 참고 자료
주요 사양
| 등급 (태양광 CZ 실리콘) | TTK-8 / ISO-88 — 회분 <50 ppm |
| 등급 (반도체 CZ 실리콘) | IG-110 / IG-430U — 회분 <10 ppm |
| 등급 (플로트 존) | IG-110 HP — 회분 <5 ppm |
| 주요 미량 금속 | Fe, Ni, Cu 각 < 1 ppm |
| 밀도 | 1.77–1.85 g/cm³ |
| 최고 사용 온도 | 불활성 분위기에서 2800°C |
| 가공 공차 | ±0.02 mm 표준; ±0.01 mm 가능 |
| 포장 | 진공 밀봉 PE; 요청 시 클린룸 준비 포장 |
재료 등급
권장 흑연 등급
본 용도에 공급하는 등급
IG-110
원자력/반도체 등급 — 회분 <5 ppm, 탁월한 순도
IG-430U
초미세 입자 — 엄격한 표면 조도가 필요한 서셉터에 적합
TTK-8
태양광 CZ용 고급 등방압 흑연 — 회분 <50 ppm
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